BrillianSe™直接轉換高精度X射線(xiàn)探測器

加拿大KA Imaging推出了其專(zhuān)有的無(wú)定形硒（a-Se）BrillianSe™X射線(xiàn)探測器，用于高亮度成像。這款混合a-Se/CMOS的探測器采用具有高固有空間分辨率的a-Se光導體，可直接將X射線(xiàn)光子轉換為電荷。然后，低噪聲CMOS有源像素傳感器（APS）讀取電子信號。無(wú)需首先將X射線(xiàn)光子轉換為可見(jiàn)光（這在間接閃爍體方法中是必需的），因此不需要減薄轉換層以減少光學(xué)散射。BrillianSe™提供了一種獨特的組合，使用8微米像素實(shí)現高空間分辨率，以及具有高達120 keV的能量的高探測量子效率（DQE）。這種組合可實(shí)現在低通量和高能量條件下進(jìn)行高效成像，并可進(jìn)行基于傳播的（無(wú)光柵）相位對比增強，以提高低密度材料成像時(shí)的靈敏度。BrillianSe™ X射線(xiàn)檢測器具有1600萬(wàn)的像素（16M）。

主要應用

?低密度材料相差對比

?單光子靈敏度(>50 keV)

?同步加速器微納CT

?高能量(>50 keV)布拉格相干衍射成像

技術(shù)介紹

直接轉換技術(shù)允許使用厚轉換層，并以100%填充因子運行，以獲得高 DQE。在60kVp（2mm鋁濾波）下，BrillianSe™具有市場(chǎng)領(lǐng)先的高 DQE（10 cycles/mm時(shí)為36%）和小點(diǎn)擴散函數（PSF）（1.1 像素）的組合。這有助于低通量應用成像，例如X射線(xiàn)衍射、劑量敏感的蛋白晶體學(xué)以及對有和無(wú)相位對比的材料進(jìn)行受通量限制的成像。在63keV 時(shí)，MTF在 Nyquist（奈奎斯特）頻率下為10%。此外，在低能量（21 keV）下，使用透射條形靶標樣可展示8微米的分辨率。

JIMA空間分辨率標樣（21kev）的BrillianSe™圖像。數字表示以微米為單位的條寬。左側為橫截面8 μm 的圖案

應用案例

BrillianSe™高分辨X射線(xiàn)探測器具有16M像素，采用直接轉換專(zhuān)有技術(shù)，對樣品進(jìn)行“吸收襯度+相位襯度”成像，大幅度提高樣品中的低密度成分成像時(shí)的靈敏度，可用于硬x射線(xiàn)包括同步加速器線(xiàn)束。探測樣品案例，如：芳綸等復合材料（Kevlar）、腦支架、硅通孔(TSV)、牙簽、甜椒種子、藥物膠囊、輕質(zhì)骨料（混凝土）等。